PSS納米粒度分析儀ZETA電位分析儀的操作優(yōu)勢及維護(hù)方法
美國PSS Nicomp Z3000系列納米粒度分析儀是一款集成了動態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)技術(shù)的先進(jìn)分析儀器，專為納米材料研發(fā)和膠體體系研究而設(shè)計。該儀器采用軍用級雪崩光電二極管檢測器(APD)，靈敏度比傳統(tǒng)光電倍增管(PMT)高出3-5倍，為科研工作者提供了前所未有的檢測精度。
核心技術(shù)特點：
超寬檢測范圍：粒徑檢測覆蓋0.3nm-10μm，ZETA電位測量范圍達(dá)±500mV
多算法分析系統(tǒng)：同時采用Gaussian單峰算法和專利Nicomp多峰算法，特別適合多組分、不均勻分散體系的分析
高精度溫控系統(tǒng)：溫控精度±0.1℃，溫度范圍0℃-90℃，確保測試條件穩(wěn)定
智能軟件平臺：符合21CFR Part 11規(guī)范，具備自動數(shù)據(jù)校準(zhǔn)、異常值剔除功能，支持Excel導(dǎo)出
創(chuàng)新功能模塊：
操作體驗優(yōu)勢：
實際測試表明，該儀器測量Zeta電位的重復(fù)性偏差可控制在2mV以內(nèi)，單次測試時間僅需15分鐘，相比傳統(tǒng)儀器效率提升50%。其專用石英玻璃樣品池設(shè)計配合35mW大功率激光光源，即使對低濃度樣品也能獲得穩(wěn)定信號。測試完成后，系統(tǒng)自動生成包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)差和分布圖譜的完整報告，大大節(jié)省數(shù)據(jù)處理時間。
維護(hù)保養(yǎng)提示：
建議使用后立即用無水乙醇清洗樣品池，避免樣品殘留；定期使用標(biāo)準(zhǔn)乳膠球進(jìn)行校準(zhǔn)，或定期約品牌售后上門調(diào)校；測試前確保樣品溫度與室溫平衡。這些措施可保證儀器長期保持最佳工作狀態(tài)。
作為納米材料研發(fā)領(lǐng)域的專業(yè)設(shè)備，美國PSS Z3000系列以其卓越的測試精度、高效的工作流程和可靠的數(shù)據(jù)質(zhì)量，已成為眾多科研院所和企業(yè)實驗室的首選分析工具。
超寬檢測范圍：粒徑檢測覆蓋0.3nm-10μm，ZETA電位測量范圍達(dá)±500mV
多算法分析系統(tǒng)：同時采用Gaussian單峰算法和專利Nicomp多峰算法，特別適合多組分、不均勻分散體系的分析
高精度溫控系統(tǒng)：溫控精度±0.1℃，溫度范圍0℃-90℃，確保測試條件穩(wěn)定
智能軟件平臺：符合21CFR Part 11規(guī)范，具備自動數(shù)據(jù)校準(zhǔn)、異常值剔除功能，支持Excel導(dǎo)出
創(chuàng)新功能模塊：
- 自動稀釋系統(tǒng)：可直接處理固含量高達(dá)50%的原樣，避免人工稀釋誤差
- 多角度檢測系統(tǒng)（選配）：15°-175°可調(diào)檢測角度，提供更高分辨率的粒徑分布數(shù)據(jù)
- 自動滴定模塊（選配）：與瑞士萬通滴定儀聯(lián)用，實現(xiàn)pH值自動調(diào)節(jié)和Zeta電位精確測定
操作體驗優(yōu)勢：
實際測試表明，該儀器測量Zeta電位的重復(fù)性偏差可控制在2mV以內(nèi)，單次測試時間僅需15分鐘，相比傳統(tǒng)儀器效率提升50%。其專用石英玻璃樣品池設(shè)計配合35mW大功率激光光源，即使對低濃度樣品也能獲得穩(wěn)定信號。測試完成后，系統(tǒng)自動生成包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)差和分布圖譜的完整報告，大大節(jié)省數(shù)據(jù)處理時間。
維護(hù)保養(yǎng)提示：
建議使用后立即用無水乙醇清洗樣品池，避免樣品殘留；定期使用標(biāo)準(zhǔn)乳膠球進(jìn)行校準(zhǔn)，或定期約品牌售后上門調(diào)校；測試前確保樣品溫度與室溫平衡。這些措施可保證儀器長期保持最佳工作狀態(tài)。
作為納米材料研發(fā)領(lǐng)域的專業(yè)設(shè)備，美國PSS Z3000系列以其卓越的測試精度、高效的工作流程和可靠的數(shù)據(jù)質(zhì)量，已成為眾多科研院所和企業(yè)實驗室的首選分析工具。
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